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XAVU鍍層測厚儀

? ? ? ? XAU系列能量色散X熒光光譜分析儀,是一款配備SDD探測器的高效率鍍層測厚儀!? ? ? ? 此款產品可適用于固體和液體的含量檢測,用于液體中高含量金屬成分的檢測,滿足高測試精度和高準確度。? ? ? ? 搭配微聚焦X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統,以及高敏變

  • 測量面積:最小0.002mm2
  • 鍍層分析:23層鍍層24種元素
  • 儀器特點:可變焦對焦
  • 儀器優勢:同元素不同層分析
  • 聯系方式:400-850-1617
  • 服務宗旨:一六儀器,一流品質

XAVU系列能量色散X熒光光譜分析儀,是一款配備SDD探測器的高效率光譜分析儀!


此款產品可適用于固體和液體的含量檢測,用于液體中高含量金屬成分的檢測,滿足高測試精度和高準確度。

搭配微聚焦X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統,以及高敏變焦測距裝置,可測試極微小和異形樣品。

含量分析檢出限最低1ppm,可檢測鍍層厚度0.005um ,最小測量面積0.04mm2 · 凹槽深度測量范圍可達0至30mm,特殊要求可達90mm。

外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動,移動精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的樣品測試都可輕松操作。        

技術參數:
1.探測器:半導體冷卻硅漂移SDD探測器

2.探測器分辨率:130±5ev 

3.涂鍍層分析范圍:各種元素及有機物
4.可一次性同時分析:23層鍍層,24種元素
5.最小測量面積:0.04mm2
6.對焦距離:0-30mm,特殊要求可達90mm
7.樣品腔尺寸:500mm×360mm×215mm
8.儀器尺寸:550mm×480mm×470mm

9.儀器重量:45kg

儀器配置:
1.微焦X射線發生器
2.光路轉換聚焦系統
3.高敏變焦測距裝置
4.半導體冷卻硅漂移SDD探測器
5.先進的數字多道分析
6.高精度微型移動滑軌
7.標準片Ni/Fe 5um
8.標準片Au/Ni/Cu 0.1um/2um



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